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CST-50冲击试样缺口投影仪
    发布时间: 2022-01-17 14:21    
CST-50冲击试样缺口投影仪

一、产品说明

 CST-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007 《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。是理化试验室的必备专用设备

 

二、技术参数

1.投影屏直径:          180mm

2.工作台尺寸:

方工作台尺寸:    110×125mm

圆工作台直径:      90mm

工作台玻璃直径:      70mm

3.工作台行程:

纵向:        ±10mm

横向:        ±10mm

升降:       ±12mm(无刻度)

4.工作台转动范围:      0~360°(无刻度)

5.仪器放大倍率:         50X

物镜放大倍率:           2.5X

投影物镜放大倍率:           20X

6.光源(卤钨灯):     12V 100W

7.电源:        220V    50Hz

8.外形尺寸:       515×224×603mm(长×宽×高)

9.重量:            18Kg

 

三、主要配置:

1.投影仪主机  一台

2.底座调整钮  四个

3.电源线      一根

4.卤钨灯      二个

5.平板玻璃    一块

 

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